JNNP：立体脑电图检查中电刺激诱发癫痫发作是术后癫痫复发的有用预期指标吗？

自痉挛疗程开始以来，大脑皮层的直接磁激发（ES）依然被用于两个主要借此：描画功能特质皮质图和定位致痫区（EZ）。诱发痉挛的ES被认为是立体出有（SEEG）研究的一个重要外。直接磁激发大脑皮层是立体出有（SEEG）的传统文化原理，但其作为痉挛高烧研究环境因素的价值尚未被认真研究。在已发表的有关痉挛疗程的研究中，EZ的定义或疗程结果的研究因子、ES的诊断和HRS价值大多被提及。

原理：回顾特质研究了346例经SEEG疗程治疗的局灶特质痉挛病患者。所有病患者均接受非侵入特质术前评估，包括以致于肩膀出有管控、高分辨率MRI（痉挛协议）和质子发射扫描仪。作为潜在的研究环境因素，包括：病症、MRI原始数据、得病年龄、痉挛持续时间、疗程年龄、疗程位置以及痉挛高烧是由低频磁激发（LFS）还是高频磁激发造成了的。

结果：346例中，63.6%的病患者HRS良好（无痉挛复发）。与单一病症研究有突出连续特质。在多变量研究中，MRI、II型局灶特质皮质风湿热和使痉挛复发（SR）的风险分别增高了47%、58%和81%。与没有诱发特质痉挛相较，LFS后高烧特质流血事件的发生突出地研究了痉挛高烧的有利结果，最后随访时SR致残的几率只有44%。

结论：在据信的研究HRS环境因素中，LFS诱发痉挛是术后痉挛HRS的一个有意涵的研究环境因素。

Trebuchon A, Racila R, Cardinale F, et al Electrical stimulation for seizure induction during SEEG exploration: a useful predictor of postoperative seizure recurrence?Journal of Neurology, Neurosurgery Wild Psychiatry Published Online First: 28 October 2020. doi: 10.1136/jnnp-2019-322469